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            用TH1992快速測試半導體器件I/V特性

            更新時間:2023-05-24點擊次數(shù):1284

            研究背景:電子測量儀器作為基礎科研工具,是國家科研自主可控的重要環(huán)節(jié)。在半導體器件、超導材料和光電器件等測試領域中,為了更全面地檢測器件特性,提升整個測試系統(tǒng)的效率,往往對供給電源和測量同步性方面有更嚴苛的要求。


            圖片11.jpg


            TH1991/TH1992系列精密源/測量單元可輸出高達±210V直流電壓、±3A直流電流以及±10.5A脈沖電流、最小10fA/100nV的電源和測量分辨率,支持高速采樣,可生成任意波形。

            TH1992為雙通道版本,相較于單通道版本,TH1992支持雙通道同步輸出及測量,對于3端器件的測試更友好,可極大提升測試效率。

            一、二極管I/V特性

            晶體二極管也稱為半導體二極管,簡稱二極管(Diode)。內(nèi)部由一塊P型半導體和N型半導體經(jīng)特殊工藝加工,在其接觸面上形成一個PN結。外部有兩個電極,分別稱為正極(P型區(qū)一側)和負極(N型區(qū)一側),使用時不能將正負極接反。


            圖片12.jpg

            圖片13.jpg



            因此,二極管具有單向?qū)щ娦裕捎糜谡?、檢波、穩(wěn)壓等電路中。用來產(chǎn)生、控制、接收、變換、進行能量轉(zhuǎn)換等。


            衡量二極管特性和核心是二極管的伏安特性曲線(簡稱I/V特性)

            二極管分硅管和鍺管


            圖片15.jpg


            材料類型

            死區(qū)電壓

            正向?qū)妷?/span>

            Si

            0.5V

            0.6-0.8V

            鍺(Ge

            0.1V

            0.2-0.3V

            如何測試二極管的I/V特性?以常見的1N4148保護二極管為例



            TH199X方案VS傳統(tǒng)方案,區(qū)別在哪兒?


            圖片17.png


            連接好之后,操作更簡單

            只需8步,可以將二極管正反向IV曲線全部測出,全程觸摸屏操作,無需連接電腦上位機,曲線可直接截屏及生成csv表格,快捷簡單。

            因此,使用TH199X系列精密源/測量單元(SMU)測試更精確、更快捷,適合從產(chǎn)線到實驗室各種場合。